2.5次元投影儀測頭使用常識

測頭是2.5次元投影儀重要的組成部分，在2.5次元投影儀的應用中發(fā)揮著巨大的作用。測頭可以分為兩種，分別是：掃描測頭和觸發(fā)測頭，目前的三坐標測量儀使用zui多的是觸發(fā)測頭。下面，我們就對觸發(fā)測頭的使用進行介紹。

觸發(fā)式測頭使用：

    一、觸發(fā)式測頭比掃描測頭快，觸發(fā)測頭體積較小當測量空間狹窄時測頭易于接近零件；

    二、零件所被關注的是尺寸(如小的螺紋底孔)、間距或位置，而并不強調其形狀誤差(如定位銷孔)；

    三、或你確信你所用的加工設備有能加工出形狀足夠好的零件，而注意力主要放在尺寸和位置精度時，接觸式觸發(fā)測量是合適的，特別是由于對離散點的測量；

    四. 一般來講觸發(fā)式測頭使用及維修成本較低；

    由于目前的機械工業(yè)需要測量大量的幾何量，所關注的僅是工件的尺寸及位置，所以目前市場上的大部分2.5次元投影儀，仍然使用接觸式觸發(fā)測頭，特別是中等精度2.5次元投影儀。

    對于2.5次元投影儀操作人員來說，測頭知識是必須要了解的。因為這是坐標測量機zui基本的使用常識，只有了解并掌握了才有可能完成測量任務。